Aktualności

7th International Conference on Scanning Probe Spectroscopy and Related Methods SPS’15

Szanowni Państwo,

7 Krajową Konferencję Nanotechnologii, o której wspominaliśmy w poprzedniej wiadomości poprzedzi 7th International Conference on Scanning Probe Spectroscopy and Related Methods SPS’15, która odbędzie się w dniach 21-24 czerwca 2015 r. Za program merytoryczny  międzynarodowej konferencji odpowiada Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej oraz Interdyscyplinary Nanoscience Center Uniwersytetu w Hamburgu.

Konferencje są realizowane niezależnie od siebie. Udział w obydwu daje wystawcom unikalną możliwość dotarcia z ofertą do blisko 500 profesjonalnych odbiorców w jednym miejscu i czasie. Uczestnicy uzyskają z kolei możliwość uczestnictwa w dwóch branżowych konferencjach oraz towarzyszących im wystawach sprzętu i oprogramowania dla jednostek naukowych i badawczo-rozwojowych.

Tematyka konferencji związana jest ściśle z rozwojem nanonauki i nanotechnologii. Mikroskopy próbnikowe – będące głównym tematem referatów konferencyjnych – stanowią podstawowe narzędzie badań materiałów w skali nanometrowej. Podczas konferencji omawiane będą najnowsze osiągnięcia w rozwoju metod instrumentalnych, doświadczalnych, koncepcji teoretycznych i zastosowań spektroskopii próbnikowej i metod pokrewnych.

Zakres tematyczny SPS’15 obejmuje:

  • skaningową spektroskopię tunelową,
  • spektroskopię sił atomowych,
  • skaningową spektroskopię bliskiego pola,
  • teorię i symulacje metod spektroskopowych oraz materiałów.

Pełna opłata konferencyjna obejmująca udział w bankiecie i wycieczkach: 875 zł 

Podstawowa opłata konferencyjna: 700 zł

Studenci i doktoranci: 275 zł

 Najświeższe informacje na temat konferencji znajdą Państwo na stronie www.sps2015.pl

Serdecznie zapraszamy do wzięcia udziału!

Podobne artykuły

Szanowni Państwo, mamy przyjemność zaprosić Państwa do udziału w 7 Krajowej Konferencji Nanotechnologii, która odbędzie się w dniach 25-27 czerwca 2015 r. na terenie Międzynarodowych Targów Poznańskich. Za organizację merytoryczną...

Accessibility Tools