1. Spektrometria TXRF jako czuła i dokładna metoda oznaczania pierwiastków W 1971 roku dwaj Japończycy, Yoneda i Horiuchi, po raz pierwszy wykorzystali geometrię całkowitego wewnętrznego odbicia w technice fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Znaczna poprawa czułości i możliwość...
  2. Projekt ClusterMat w mediach Informacje o wynikach projektu ClusterMat zostały opublikowane w kilku czasopismach i portalach branżowych. Zachęcamy do lektury. Zespół naukowy Wydziału Mechanicznego Politechniki Wrocławskiej chętnie udzieli...
  3. Mikrostruktura i właściwości mechaniczne powłok szkieł metalicznych na bazie żelaza

Nanotechnology

more
W 1971 roku dwaj Japończycy, Yoneda i Horiuchi, po raz pierwszy wykorzystali geometrię całkowitego wewnętrznego odbicia w technice fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Znaczna poprawa czułości i możliwość badania próbek o małych objętościach (mikrolitry)...
W 1971 roku dwaj Japończycy, Yoneda i Horiuchi, po...
Informacje o wynikach projektu ClusterMat zostały opublikowane w kilku...

Recommend

more

Patronujemy

more

Silesian Nano Cluster

more

Members of the cluster