Gwałtowny rozwój nanotechnologii w ostatnich latach umożliwił badanie, ale także otrzymywanie projektowanych materiałów w nanoskali. To nieuchronnie doprowadziło do podjęcia kroków w kierunku normalizacji tych dziedzinach. Międzynarodowa Organizacja Normalizacyjna (ISO, z ang. International Organization for Standardization) oraz Europejski Komitet Normalizacyjny (CEN, z fr. Comité Européen de Normalisation), zdefiniowały w 2011 roku nanoskalę jako wymiar w zakresie 1 ÷ 100 nm. W nanoskali możemy znaleźć atomy, pojedyncze cząstki […]

W 1971 roku dwaj Japończycy, Yoneda i Horiuchi, po raz pierwszy wykorzystali geometrię całkowitego wewnętrznego odbicia w technice fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Znaczna poprawa czułości i możliwość badania próbek o małych objętościach (mikrolitry) dały impuls do opracowania nowej odmiany XRF, a mianowicie spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej całkowitego odbicia (TXRF). W trakcie pomiaru TXRF monochromatyczna wiązka promieniowania X pada na próbkę pod małym kątem, po czym nie wnikając głębiej niż na kilkanaście […]