Firma IRtech Sp. z o.o. znana głównie z oferty niekonwencjonalnych spektrometrów Ramana i FT-IR rozszerza swoją ofertę o urządzenia do analiz materiałów w nanoskali. Dotychczasową ofertę uzupełnią mikroskopy AFM oraz MFM wraz z różnego typu głowicami skanującymi firmy Nanomagentics Instruments, mikroskopy tandemowe oraz poczwórne AFM, układy hybrydowe AFM + Raman + IR, system litografii „fountain pen” oraz sondy skanujące firmy Nanonics Imaging oraz moduły spektrometru Ramana dla mikroskopów SEM firmy Hybriscan. Irtech oferuje także kompletne systemy do analiz SAXS/WAXS firmy Xenocs oraz spektrometr do mikroanalizy XRF AttoMap firmy Sigray. Ofertę uzupełniają akcesoria do powyższych systemów w tym wysokowydajne źródła promieniowania rentgenowskiego (włączając MetalJet), zwierciadła i kapilary dla X-ray oraz standardowe lampy, detektory i spektrometry X-ray.
Poszczególne rozwiązania można znaleźć na stronie internetowej firmy: www.irtech.pl.
Accessibility Tools