ATM

Mikroskopia sił atomowych pozwala tworzyć nanowzory na polimerach przewodzących

Naukowcom z Oak Ridge National Laboratory (ORNL) udało się stworzyć nanowzory na powierzchni polimerów, dzięki mikroskopii sił atomowych (Atomic Force Microscopy – AFM). Wzory zostały wyryte na podłożu wykonanym z nowej klasy polimerów jonowych. Eksperyment ten udowodnił, że nanostruktury używane do produkcji coraz mniejszych urządzeń elektronicznych mogą być produkowane przy pomocy AFM. Vera Bocharova wyjaśnia: […]

więcej

Accessibility Tools