Spektrometr XRF
W 1971 roku dwaj Japończycy, Yoneda i Horiuchi, po raz pierwszy wykorzystali geometrię całkowitego wewnętrznego odbicia w technice fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Znaczna poprawa czułości i możliwość badania próbek o małych objętościach (mikrolitry) dały impuls do opracowania nowej odmiany XRF, a mianowicie spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej całkowitego odbicia (TXRF). W trakcie pomiaru TXRF monochromatyczna wiązka promieniowania X pada na próbkę pod małym kątem, po czym nie […]
więcej
Mecenasi Fundacji
Zostań mecenasem
