Nanotechnologia

W Center for Nanoscale Systems na Uniwersytecie Harvard (USA), w grupie badawczej profesora Davida C. Bella z Harvard John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences został zainstalowany nowy niskoenergetyczny mikroskop elektronowy ze zintegrowanym systemem korekcji aberracji FE-LEEM P90 AC. Śluza została zaprojektowana specjalnie dla walizek próżniowych – dokładnie do przenoszenia próbek z różnych systemów w warunkach próżni do systemu AC-LEEM celem ich analizy.

Harvard zapewnił idealne środowisko dla specyfikacji FE-LEEM P90 AC firmy SPECS, która demonstruje wyjątkową wydajność dla procesów analizy próbek w rozdzielczości < 3nm w LEEM i < 8nm w PEEM w czasie rzeczywistym. Dodatkowo, próbki będą przygotowywane in-situ i podgrzewane od RT do 1500K przez podgrzewanie wiązką elektronów lub schładzane do < 130K przez ciekły azot, a LEEM/PEEM może pozyskiwać obrazy i analizować zmiany powierzchni w czasie rzeczywistym, podczas gdy próbka jest utrzymywana w dowolnej temperaturze. Dzięki zintegrowanym filtrom energetycznym, osiągalne są spektroskopowe rozdzielczości energetyczne < 250meV, a dzięki zaadaptowanemu źródłu UVS300 UV wykorzystującemu HeI/II, zademonstrowane mogą być również pomiary ARPES.

Łatwa obsługa urządzenia i szybki proces transferu próbki zapewniają idealne warunki do szybkiej i szczegółowej analizy wskazanej próbki.

Źródło artykułu: https://www.specs-group.com/nc/specsgroup/latest-news/blog/detail/new-leem-system-at-harvard-university/

Źródło zdjęcia: SPECS GmbH