mikroanaliza rentgenowska
W 1971 roku dwaj Japończycy, Yoneda i Horiuchi, po raz pierwszy wykorzystali geometrię całkowitego wewnętrznego odbicia w technice fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Znaczna poprawa czułości i możliwość badania próbek o małych objętościach (mikrolitry) dały impuls do opracowania nowej odmiany XRF, a mianowicie spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej całkowitego odbicia (TXRF). W trakcie pomiaru TXRF monochromatyczna wiązka promieniowania X pada na próbkę pod małym kątem, po czym nie […]
więcej
Czy w trakcie obrazowania na skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM) interesuje Cię natychmiastowy dostęp do informacji o składzie badanego materiału? Dla większości osób charakteryzujących swoje próbki, naukowców i wytwórców, odpowiedź jest bez wątpienia twierdząca. Jak wiadomo, mikroskopia SEM pozwala nie tylko na obrazowanie mikrostruktury i powierzchni próbek, ale również na pozyskiwanie informacji o składzie pierwiastkowym. Jest […]
więcej
Mecenasi Fundacji
Zostań mecenasem
