mikroanaliza rentgenowska

ColorSEM™: wygodna, łatwa i szybka analiza składu pierwiastkowego w mikroskopie SEM

Czy w trakcie obrazowania na skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM) interesuje Cię natychmiastowy dostęp do informacji o składzie badanego materiału? Dla większości osób charakteryzujących swoje próbki, naukowców i wytwórców, odpowiedź jest bez wątpienia twierdząca. Jak wiadomo, mikroskopia SEM pozwala nie tylko na obrazowanie mikrostruktury i powierzchni próbek, ale również na pozyskiwanie informacji o składzie pierwiastkowym. Jest to możliwe dzięki spektroskopii rentgenowskiej z dyspersją energii (EDS). W trakcie procesu pomiarowego charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie, wzbudzane […]

więcej