NAP-XPS

Podstawy spektroskopii NAP-XPS / by Sygnis

Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów (XPS, X-ray Photoelectron Spectroscopy) do analizy chemicznej (ESCA, Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) jest ilościową techniką spektroskopową, która pozwala na zmierzenie składu chemicznego badanego obiektu z dokładnością <1% oraz ustalenie stanu chemicznego i elektronowego pierwiastków występujących w materiale, bez potrzeby jego niszczenia. Widma XPS uzyskuje się pobudzając materiał wiązką promieniowania rentgenowskiego, jednocześnie […]

więcej

NAP-XPS (Spektroskopia fotoelektronowa promieniowania X) wykazała oddziaływanie struktur metaloorganicznych (MOF) z wodą i metanolem / by Sygnis

W artykule z 2021 roku, naukowcy z niemieckiego Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) i Karlsruhe Institute of Technology (KIT) we współpracy z grupą wdrożeniową SPECS użyli systemu SPECS EnviroESCA by wykazać, że modelowy system struktur metaloorganicznych oddziałuje inaczej w środowisku wodno-pirydynowym i metanolowym. Pomiary wykonane za pomocą urządzenia EnviroESCA wykazały selektywną redukcję miedzi w […]

więcej

Accessibility Tools