xps

Rentgenowska spektroskopia fotoelektronowa (XPS) jest wydajną i nieniszczącą techniką analizy materiałów i powierzchni, która dostarcza ilościowych informacji pierwiastkowych i chemicznych (ESCA). NAP-XPS to rozwinięcie metody XPS w ciśnieniu zbliżonym do atmosferycznego. Metoda ta została opracowana w celu umożliwienia rutynowej analizy „trudnych” próbek o złożonym składzie chemicznym. Rozwinięcie XPS z metody wymagającej warunków ultra wysokiej próżni […]

W 1905 roku Albert Einstein otrzymał Nagrodę Nobla w dziedzinie fizyki za kwantowo-mechaniczną interpretację efektu fotoelektrycznego. Jego teoria opierała się na wynikach Heinricha Hertza i Maxa Plancka dotyczących natury światła jako fal elektromagnetycznych oraz empirycznej wiedzy o istnieniu dyskretnych porcji energii, dziś nazywanych „kwantami”. Wtedy był to wielki krok w rozwoju nauk przyrodniczych, ale dzisiaj […]

Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów (XPS, X-ray Photoelectron Spectroscopy) do analizy chemicznej (ESCA, Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) jest ilościową techniką spektroskopową, która pozwala na zmierzenie składu chemicznego badanego obiektu z dokładnością <1% oraz ustalenie stanu chemicznego i elektronowego pierwiastków występujących w materiale, bez potrzeby jego niszczenia. Widma XPS uzyskuje się pobudzając materiał wiązką promieniowania rentgenowskiego, jednocześnie […]